KASUGA春(chun)日(ri) 靜電消(xiao)除(chu)電極(ji) KDB-500 KDB-900 棒(bang)式靜電消(xiao)除(chu)器(qi)（ KD-309系(xi)列/KDB系(xi)列）

日(ri)本 KASUGA 春(chun)日(ri) 靜電消(xiao)除(chu)器(qi) KD-309LBS 棒(bang)式靜電消(xiao)除(chu)器(qi)（ KD-309系(xi)列/KDB系(xi)列）

日本(ben) KASUGA 春(chun)日(ri) 空(kong)氣(qi)離(li)子(zi)監(jian)測儀 NK-7001 大氣(qi)離(li)子(zi)監(jian)測儀可高(gao)精(jing)度(du)測量帶(dai)電板（檢測(ce)部分）的(de)電位(wei)，該帶(dai)電板的(de)電容(rong)與設備的(de)接(jie)地(di)電容(rong)幾乎相(xiang)同，非常(chang)適合(he)檢查離(li)子(zi)發生器(qi)安(an)裝(zhuang)和(he)日(ri)常(chang)管理(li)的(de)有效性(xing)。

KASUGA 春(chun)日(ri) 靜電電位(wei)監(jian)測器(qi) KSD-0120 2CH 靜(jing)電電位(wei)監(jian)測器(qi) (KSD-0120)

KASUGA 春(chun)日(ri) 離(li)子(zi)發生器(qi) KD-750BB /KD-750B 風(feng)扇型離(li)子(zi)發生器(qi) (KD-750BB/KD-750B)

日本(ben) KASUGA 春(chun)日(ri) 低(di)電位(wei)測量(liang)儀 KSD-3000 數(shu)字低(di)電位(wei)測量(liang)儀（KSD-3000） 電子(zi)設備的(de)抗靜電能力(li)正在(zai)降(jiang)低(di)，靜電管(guan)理(li)電壓也(ye)在(zai)降(jiang)低(di)。 現(xian)在(zai)可(ke)以高精(jing)度(du)測量傳(chuan)統(tong)型號難以測(ce)量的(de) 100V 或更小(xiao)的(de)靜電荷，並且可以(yi)從 0.1V 開(kai)始(shi)測(ce)量(liang)。 此(ci)外(wai)，通過縮(suo)小(xiao)測量(liang)區(qu)域，現(xian)在(zai)可(ke)以測量諸(zhu)如(ru)LSI封裝(zhuang)表面之(zhi)類(lei)的(de)狹窄區(qu)域。

KASUGA 靜電測(ce)試儀 KSD-1000 / KSD-2000 數(shu)字式靜電電位(wei)測量(liang)裝(zhuang)置 在(zai)電子(zi)設備的(de)組裝(zhuang)過程(cheng)中，樹脂(zhi)成型(xing)品、薄膜等(deng)許多(duo)物品(pin)都(dou)帶有kV量級的(de)電荷。該數(shu)字靜電電位(wei)測量(liang)儀適用於(yu)靜(jing)電控制電壓較(jiao)高的(de)工藝(yi)。 測量(liang)範圍切換功能可(ke)實(shi)現(xian)從電子(zi)器(qi)件(jian)的(de)低(di)電位(wei)測量(liang)到樹脂(zhi)成型(xing)品、薄膜、印刷(shua)電路(lu)板制造等(deng)的(de)高電位(wei)測量(liang)的(de)測量(liang)。

日(ri)本 KASUGA 春(chun)日(ri) 靜電消(xiao)除(chu)器(qi) KDB-1800RP 棒(bang)式靜電消(xiao)除(chu)器(qi)（ KD-309系(xi)列/KDB系(xi)列）

日(ri)本 KASUGA 春(chun)日(ri) 靜電消(xiao)除(chu)器(qi) KDB-3500P 棒(bang)式靜電消(xiao)除(chu)器(qi)（ KD-309系(xi)列/KDB系(xi)列）

KASUGA春(chun)日(ri) 靜電消(xiao)除(chu)器(qi) KDB-1200 /KDB-700P 棒(bang)式靜電消(xiao)除(chu)器(qi)（ KD-309系(xi)列/KDB系(xi)列）